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扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 ynf!1!4 K@oyvJ$
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YnS 建模任务 A;6ew4 C1qlB8(Wh> @k# xr 仿真干涉条纹 l>hvWK[ ?I U-$nwji KdzV^6K<c 走进VirtualLab Fusion H(O|y2 'Q=(1a11 ,|;\)tT )T&r770 VirtualLab Fusion中的工作流程 'geN
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