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摘要 )a0%62
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干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 L.R4 iN
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T~gS8 建模任务 S :%SarhBD [ )KLmL%  H=1Jq
y~ -dQ7r 元件倾斜引起的干涉条纹 WB(Gx_o3 2/4,iu(T`c
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f.L" 元件移动引起的干涉条纹 dWDM{t\}\
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 Jh!'" 7 [)L) R` VirtualLab Fusion工作流程 H){lXR/#u Z&[_8Y5j −基本源模型[教程视频] u{d\3-]/
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II：位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] Y}UVC|Ef
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