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摘要 PAqziq. 8IVKS> 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 .kBAUkL: T$'Ja'9Kj
1 iE &yYK%~}t[ 建模任务 RJGf@am& 8mMrGf[Q\ ";xG[ne$Be !WrUr]0IP 元件倾斜引起的干涉条纹 56L>tP EI+.Q
4cs`R+]o /TpM#hkq/2 元件移动引起的干涉条纹 }z[O_S,X r{Xh]U&>k
(z"Cwa@e 8)sqj= 走进VirtulLab Fusion g*8sh CjIkRa@!x
uD<*g(R agt7b@-5= VirtualLab Fusion工作流程 koaH31Q l%;)0gT −基本源模型[教程视频] Y5(`/
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] P 0,]Ud b$VdTpz
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?2Bp^3ytJ )M}bc1 _ 文件信息 rMLCtGi cC>.`1: *}yW8i}36
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