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摘要 Se*GR"Z+ A5+vz u^ 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 ^!1mChf J
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&?/h#oF@\ 8MM#q+8 建模任务 (D{Fln\ Dq
Kk9s;6_ 7f'9Dm` ?I`']|I 元件倾斜引起的干涉条纹 S?*v p= >"B95$x5
>tqLwC."' "Q#/J)N 元件移动引起的干涉条纹 <Jo_f&&{ v$w!hYsQ
"o`N6@[w^ WsQo+Ua 走进VirtulLab Fusion }f<.07 _NA0$bGN9
0CQ\e1S,# k(><kuJ`3 VirtualLab Fusion工作流程 fEWS3`Yy 4_8%ZaQ\.? −基本源模型[教程视频] vN-#Ej.
u
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例]
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\D<rT)Tl pcv (P VirtualLab Fusion技术 +L!-JrYHS4 UW<V(6P
$OHY^IE( eRD?O 文件信息 vL`wn= "6lf~%R" q[nX<tO
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