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摘要 gOe!GnO maDWV&Db 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 NtM ?Jh (sQXfeMz
;/_htdj ZgG~xl\My 建模任务 n?$c"} W7'<Jom|? m<)`@6a/ NJE*/_S 元件倾斜引起的干涉条纹 {d*OJ/4 mv #hy
e ><0crb LEeA ,Y 元件移动引起的干涉条纹 Ha|}Oj
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