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摘要 {7/ A @ca#U-:g 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 %+D-y+hn G#^m<G^M
DS.39NY LRhP7D+A 建模任务 gD,A9a(3 'M47'{7T ,>:XE@xcp ?&{S~[;l 元件倾斜引起的干涉条纹 U.d'a~pH Z#srQD3].(
0c%@e2(N C#ZmgR 元件移动引起的干涉条纹 nomu$|I nLzX
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Q9Q!9B@ i0i.sizu 走进VirtulLab Fusion .LWOM8) F+lm [4n
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] WHZe)|n C}t+t
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/zChdjz U[K0{PbY 文件信息 KIXwx98 $8<j5%/ $M &!H~bzg
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