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摘要 )
e;F@o3 UP, 0`fh(y 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 Jz3 q
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!gJAK<]iW ?&/9b)c S 建模任务 i-niRu< p'xj:bB _)%4NjWKk :4)mv4Q 元件倾斜引起的干涉条纹 Za=<euc7 r Ld,Izi
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元件移动引起的干涉条纹 XV+BSW7} %>24.i"l
I<[(hPQUf Do2y7,jv 走进VirtulLab Fusion iW |]-Ba\ .l#Pmd!
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] CR,
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