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摘要 \g34YY^L3
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干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 31G :[;g
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 ,Q"'q0hM= q'jOI_b 建模任务 *ra)u- !RKuEg4hQ  H1-DK+Q:
#*A&jo'E 元件倾斜引起的干涉条纹 k 4s V6f ,l&?%H9q
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II：位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] KGJSGvo+y
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