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    [技术]用于光波导系统的均匀性探测器 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-04-21
    在评估AR/MR(增强或混合现实)设备中光波导系统的性能时，眼动范围内光线分布的横向均匀性是最关键的参数之一。为了在设计过程中测量和优化横向均匀性，VirtualLab Fusion提供了均匀性探测器，可以进行所需的研究。在本文件中，我们将演示可用的选项以及如何操作均匀性探测器。 x9VR>ux&  
    xdd;!HK,  
     *S=zJyAO  
    IJV1=/ NJW  
    案例演示                                                                   T_*R^Ukb5  
    \*k}RKDwT  
     &Ew{{t;"  
    7Q3a0`Iq  
    均匀性探测器   *&lNzz5&  
    LHJjPf)F  
                                                                           6l-V% 3-  
    CP!>V:w%9!  
    探测器功能：相干参数                                         0x]W W|se*  
     如果存在多个相干模式，则重叠的模可以相干叠加、非相干叠加或部分相干叠加。 !/Wp0E'A  
     对于部分相干叠加，可以通过输入相干时间(或从相干时间和长度计算器复制)来指定相干程度。 1Ydym2  
    Y1Qg|U o  
     h#!u"'JW  
    O+Qt8,  
    探测器功能：光瞳参数   LU4k/  
                                                                           S8$kxQg  
     均匀性探测器评估在配置的局部区域(称为光瞳)的照射强度。 Y>i?nC%*  
     每个光瞳由其大小(dx×dy)和形状定义，可以设置为椭圆形或矩形。 j[<}l&  
    (:2,Rr1"  
    N]6M4j!  
     1rmK#ld"=Z  
    椭圆形光瞳： ,/>hWAx  
    yC]X&1,:z  
    矩形光瞳： uNSbAw3  
    ,3tcti~sZ  
    探测器功能：光瞳位置                  DHlCus=ic  
                                               }- P ='AyL  
     一旦设置了所考虑的光瞳的大小和形状，则必须配置探测器窗口中的光瞳数量和位置。 qFD#D_O6  
     第一个选项是，根据每个单独足迹的中心光线自动确定光瞳的位置。 ee|i  
     探测器只会将光瞳放置在所有光瞳都在探测器窗口内的位置。所有其他部分足迹将被忽略。 T2^0Q9E?  
    N-4k 9l1  
     LCMCpEtY*K  
                                                               qvH7otA  
    基于中心光线的光瞳位置示例       $<(FZb=  
                                                       1JI\e6]I  
    ~@wM[}ThP$  
                                                               &58+-jzW  
    探测器功能：光瞳位置       E1uyMh-dy  
                                                       z rg#BXj7  
    *>a+`|[1*  
    k[p7)ec  
    排列在网格上的光瞳位置示例                                                       QXcSDJ  
    #gL$~.1  
    &>m# "A\^  
     |*+f N8  
    注：虚线圆圈仅用于演示光瞳，用户不会在模拟中看到它们 Mr3;B+S  
                                                               = UT^5cl(  
    眼箱中横向均匀性的测量                                                         ;/Z9M"!u[  
    L-T3{I,3  
     (79y!&9p  
                                                               v0yaFP#kG  
    均匀性探测器输出 Ikn)XZU^  
    V{j>09u  
                                                                                                                        Uczb"k5  
    gfPht 5  
    均匀性探测器输出示例                                                         8 N5ga  
    5D32d1A  
     ^K#PcPF-j  
                                                                 .%pbKi `  
     
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