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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-27
    任务/系统说明 AlIpsJ[UU  
    ;{" +g)u  
    DY?Kfvef  
     d|yAs5@  
    亮点 2 FW \O0U  
    y)@[Sl>  
    Pw61_ZZ4B\  
     gjAIEI  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； f|tjsZxQ  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； H?X|(r|+  
     g #6E|n  
    具体要求：光源 u[ Yk  
    ^cz(}N 6&  
    KW^7H  
    la+[bm< v  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 ]3 l9:|  
    >\Ww;1yV  
    -xA2pYz"  
    e F3,2DD C  
    -u8NF_{c  
    ssN6M./6  
    @0u~?!g@  
    x-?Sn' m  
    具体要求：分束器 [6XF=L,!  
    f V'ZsJ N  
    PU1Qsb5  
     ~15N7=wCM  
    具体要求：参考光路反射镜 3skC$mpJHw  
    Ot6aRk  
    MfWyc_  
    S-|)QGxV6  
    `,(,t n_  
     !74S  
    具体要求：测试光路反射镜 5X:*/FuS@  
    G%W8S \  
    j?x>_#tIY  
     @dPTk"P  
    具体要求：探测器 sv&;Y\2c  
    )j0TeE1R  
    >^*+iEe  
    #T=LR@y  
    结果：3D光线追迹 &RnTzqv  
    vbC\?\_  
    WL?\5?G 9l  
    Dw<bn<e-  
    结果：场追迹 < F.hZGss7  
    9#MBaO8_"  
    ~3WF,mW  
     P<a)25be/  
    结果：移动样品的场追迹结果 io-![^{  
    Wg<(ms dj  
    qfMo7e@6*  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 G#u6Am)T  
     
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