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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-12-27
    任务/系统说明 k,y#|bf,Y  
    pe+m%;nzR  
    R~bLEo  
    xH-} <7  
    亮点 ^1ks`1  
    "H{#ib_c_  
    ;8gODj:dO  
    QYWl`Yqf  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; n4zns,:)/  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 N mN:x&/  
    FFH {#|_1  
    具体要求:光源 n4 Y ]v  
    *JaFt@ x  
    ]o_E]5"jO  
    B^hK  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 U4Pk^[,p1G  
    Vb2")+*:  
    j MA%`*r  
    w2tkJcQ3  
    t*Wxvoxk  
    ,-BZsZ0~  
    a[gN+DX%L  
    OL[_2m*;9p  
    具体要求:分束器 Rh7=,=u  
    ;<`  
    N?Ss/by8Sg  
    i4 tW8 Il  
    具体要求:参考光路反射镜 X .S8vlb4z  
    n]btazM{  
    FD}>}fLv  
    +z\O"zlj  
    +'I8COoiv%  
    SiJX5ydz  
    具体要求:测试光路反射镜 _d<\@Tkw  
    1'* {Vm M  
    2qkC{klC^M  
    k?=V?JWY  
    具体要求:探测器 )5bdWJ>l  
    U 0S}O(Ptr  
    ]9pcDZB  
    =j~}];I  
    结果:3D光线追迹 Th*mm3D6  
    |zL.PS  
    |&%l @X 6  
    {EupB?  
    结果:场追迹 |m7`:~ow  
    RwwX;I"o%  
    wwmODw<tT  
    ; bDFrG  
    结果:移动样品的场追迹结果 1')/BM2  
    l+ <x  
    y/2U:H  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 Afa{f}st  
     
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