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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-12-27
    任务/系统说明 S!.aBAW  
    dVc;Tt  
    IrQ8t!  
     MbLG8T:y  
    亮点 fHvQ9*T  
    YM{Q)115  
    ;OQ-T+(T  
     .vNfbYH(  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； udtsq"U_%  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； *LcLYxWo  
     ;=: R|  
    具体要求：光源 I9*o[Jp5  
    r4t|T^{sl  
    P]!$MOt  
    Le9r7O:  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 6nt$o)[  
    5FqUFzVqsl  
    "F>-W \%  
    <y'B !d#  
    g3n^ <[E  
    Djx9TBZ5  
    qM3^)U2  
    Wd$N[|  
    具体要求：分束器 |[D~7|?  
    <kn#`w1U'  
    M_MiY|%V/K  
     oV ?tp4&  
    具体要求：参考光路反射镜 m hJ>5z  
    (HLy;^#R  
    I5'^tBf[{  
    Fdd$Bl.&XS  
    FU!U{qDI  
     _jH1Mcq  
    具体要求：测试光路反射镜 ;G!X?(%+  
    @SPmb o  
    l,h#RTfry  
     Bp^>R`,  
    具体要求：探测器 d(, -13  
    *-Lnsi^7v  
    |F<U;xV$p  
    @U;-5KYYi  
    结果：3D光线追迹 y>2v 9;Qp  
    5 W(iU  
    U,iTURd  
    Uvf-h4^J]:  
    结果：场追迹 Z> QSZ48=  
    wgLS9.  
    7bsW7;C  
     XIBw&mWf  
    结果：移动样品的场追迹结果 P%Q}R[Q  
    q,u >`]}  
    HxZ4t  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 >ID 3oi  
     
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