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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-12-27
    任务/系统说明 b@yGa%Gz@  
    lUR7zrwJ]o  
    Q599@5aS  
    <L1;aNN  
    亮点 V _&>0P{q  
    `nxm<~-\  
    KKz{a{ePY%  
    jo.Sg:7&  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; O+Zt*jN;  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 wi]F\ q"Y^  
    g?'4G$M  
    具体要求:光源 ` R;6]/I?  
    Q)7iu  
    z]NzLz9VfL  
    ;BsPms@U  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 JO4rU- n  
    ~f[AEE~,s+  
    36<PI'l#~  
    p/4\O  
    Sc!{ o!9\  
    ;$Eg4uX  
    p?mQ\O8F  
    a)+;<GZ~  
    具体要求:分束器 ,Qgxf';+$  
    ;E8.,#/a  
    X  8V^  
    q F \a]e  
    具体要求:参考光路反射镜 `g2DN#q[0  
    #PzRhanX  
    BcMgfa/  
    uY,(3x  
    TwlrncK*  
    HQ8oOn  
    具体要求:测试光路反射镜 (RP"VEVR  
    q;dg,Om  
    $"d< F3k  
    OC$Y8Ofr  
    具体要求:探测器 d]JiJgfa%  
    KaJCfu yp  
    J1waiOh  
    "t4$%7L]  
    结果:3D光线追迹 Y<'T;@  
    H'fmQf  
    !2)$lM1@J  
    NuLyu=.?  
    结果:场追迹  6j FD|  
    l2))StEm  
    9o|=n'o  
    7V6gT}R  
    结果:移动样品的场追迹结果 2|xNT9RW  
    VP|ga }(  
    T}ZUw;}BL  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 wf4?{H  
     
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