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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 pqmtN*zV  
    Ko|nF-r_  
    }4b 4<Sm_h  
    aSkH<5i`v  
    亮点 W_8N?coM  
    FCgr  
    $F"'= +0  
    bz<f u  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 " N>~]  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 i=jwk_y  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Q'>pOtJG*J  
    LVP2jTz  
    说明:光源 fP# !ywgr%  
    LX2rg\a+%  
    #q#C_"  
    H]As2$[  
    说明:透镜系统 "H\1Z,P<m  
    ]-]K4*{   
    0h=NbLr|S-  
    ^h\& l{e  
    说明:样品结构 Mtq\xF,/+  
    &m[ZpJ9  
    0vR gmn  
    3Z/_}5%"  
    说明:探测器 RC?gozBFJ  
    ZEa31[@B[  
    .Nt;J,U  
    >J(._K  
    结果:3D光线追迹 Wg{ 9X#|  
    j.or:nF  
    5,dKha  
    {02$pO  
    结果:场追迹矩形光栅 fSc)PqLP  
    o_ng{SL  
    ~P!\;S  
    =`<9N %  
    结果:场追迹锯齿形光栅 lidVe]>  
    k6eh$*!  
     
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