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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 S1!X;PP/  
    O/|,rAE  
     x+=Ko  
    s"7$SxMT  
    亮点 i xf~3Y8  
    .:`+4n  
     #DqVh!t"  
    ;aY.CgX  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 C`++r>  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 <hS %I  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 x$6` k  
    2NNAsr}L  
    说明：光源 <fZ?F=  
    swfcA\7R  
    Dm")\"5\?  
    P_[A  
    说明：透镜系统 GW29Rj1  
    S m%\,/3  
    {D6E@a  
     vLc7RL  
    说明：样品结构 v}Gpw6   
    HkP')= sa  
    y,i ~w |4  
    @jKiE%OP  
    说明：探测器 YV6@SXy  
    ,D6hJ_:  
    ^h c&rD)_  
    ptCFW_UV  
    结果：3D光线追迹 ':mw(`  
    ~=!d>f~U  
     (Ov{gj^  
    L,m'/}$  
    结果：场追迹矩形光栅 &gNb+z+  
    XMR$I&;G8  
    "5 /i  
     ~)Z MGx  
    结果：场追迹锯齿形光栅 e]1&f.K  
    }k`-n32)|  
     
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