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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 %83PbH  
    C@pDX>~2=b  
     -kES]P?2  
    Id]WKL:  
    亮点 NhCO C  
    4S  2I]d  
     }CsUZ&*&  
    AS|gi!OVA  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 dS0G+3J&+E  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 :|<D(YA  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 QoDWR5*^D  
    .}ohnnJB0  
    说明：光源 & ?/h5<  
    gwThhwR  
    V?Lf& X?  
    BS*cG>T  
    说明：透镜系统 eWqJ2Tt  
    a&#Z=WK4  
    20^F -,z  
     BRQ9kK20  
    说明：样品结构 o4Fh`?d}  
    =)Ew6} W6  
    GK95=?f~8;  
    $Y$!nPO  
    说明：探测器 zY[6Ia{L  
    4 E 4o=Z|K  
    n.$<D[@  
    xVfJ ]Y  
    结果：3D光线追迹 85 "DS-+e  
    {aGQ[MH\9  
     q5lRc=.b[  
    hx)Ed  
    结果：场追迹矩形光栅 xw%?R=&L  
    rM[Ps=5  
    *2 MUG h  
     \5s!lv*&  
    结果：场追迹锯齿形光栅 {zbH.V[  
    >P\T nb"Q\  
     
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