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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 <)rH8]V  
    1&E&8In]$r  
     824%]i3  
    74wa  
    亮点 H}rP{`m  
    y%Ah"UY  
     :PkSX*E[q  
    nwH|Hs riU  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Ia" Mi+{  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ueo3i1  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 J3^Ir [  
    s#49pDN  
    说明：光源 l%/,Ef*3  
    X)5O@"4 ?  
    zaPR>:r0  
    P~>nlm82]  
    说明：透镜系统 +O6@)?pI  
    'iK*#b8l  
    Q"uu&JC  
     B`Pi\1H6%  
    说明：样品结构 0C_Qp%Z  
    IA^DfdZY  
    1-<Xi-=^{t  
    /m:}rD  
    说明：探测器 VQ`O;n6/`  
    oaE3Aa  
    !{\c`Z<#  
    "5bk82."  
    结果：3D光线追迹 (>23[;.0  
    ktb. fhO  
     '(*D3ysU  
    6, ~aV  
    结果：场追迹矩形光栅 9!h+LGs(,  
    vkLG<Y  
    Sj+#yct-  
     @,.H)\a4  
    结果：场追迹锯齿形光栅 ~46ed3eGzi  
    huE#VY /t  
     
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