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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 - #3{{  
    2q)T y9  
     '@'B>7C#  
    BjM+0[HC  
    亮点 Vy]A,Rn7  
    ]#F q>E  
     bfFmTI$,  
    "$GK.MP5  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 b.QpHrnhtK  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 x+4v s s  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 EPc!p>  
    YzVN2f!n  
    说明：光源 egfi;8]E  
    X]qCS0GD'  
    x_yF|]aI!  
    f2NA=%\  
    说明：透镜系统 kEO1TS  
    z VdKYs i^  
    xJ-*%'(KZ  
     y =R aJm  
    说明：样品结构 MFv Si  
    S#k{e72 *  
    g[M]i6h2  
    XTV0Le\f  
    说明：探测器 ^%;"[r  
    29%=:*R$  
    ]3}feU+  
    ~]&B >q  
    结果：3D光线追迹 -TgUyv.  
    TZ'aNcGg  
     /J;;|X#P  
    @: Z#E[N H  
    结果：场追迹矩形光栅 !}ilN 1>  
    ~x'zX-@rC  
    zhX;6= X2  
     =c&62;O  
    结果：场追迹锯齿形光栅 V7:\q^$  
    zO%w_7 w  
     
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