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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 L 4V,y>  
    jmPnUn  
     aS=-9P;v  
    [MhKR }a  
    亮点 9sG]Q[:.]  
    iO+,U}&  
     hK+6S3-E z  
    q=(% ]BK  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 :e /*5ix  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 `i`+yh>pc#  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 4PjC[A*  
    @QteC@k  
    说明：光源 2,aH1Xbex  
    'HKDGQl`  
    @GUlw[vi  
    t xE=AOY5  
    说明：透镜系统 ckGmwYP9  
    HxSq &j*F  
    O,6Wdw3+-3  
     3{$vN).  
    说明：样品结构 1r$*8 |p  
    )Zf1%h~0r  
    ls7eypKR  
    !7Eodq-0  
    说明：探测器 `+z^#3l  
    i/j53towe  
    wXjidOd $  
    vAp<Muj(a  
    结果：3D光线追迹 'X<4";$mU  
    WP2=1"X63  
     p8Z?R^$9H  
    <O5WY37"q  
    结果：场追迹矩形光栅 o?Aj6fNY?  
    jc!m; U t  
    27k(`{K  
     I4W@t4bZ  
    结果：场追迹锯齿形光栅 t0+i ]lr  
    eU\xOTl~<{  
     
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