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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 v=5H,4UMA  
    K</EVt,U~  
    W>TG!R 5  
    6Cw+  
    亮点 -UY5T@as  
    ,2oFt\`.r  
    6<1 2j7  
    m';j#j)w  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 "o_s=^U  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 }uP`=T!"8  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 vT@*o=I  
    wN NXUW  
    说明:光源 Z5/*i un  
    Y*VF1M,2_  
    |"}oGL6-  
    +@], JlYf  
    说明:透镜系统 d ~#B,+  
    \ SCi\j/a(  
    {g9*t}l4  
    1Hl-|n  
    说明:样品结构 f/xQy}4+~E  
    gGZ-B<  
    K@%o$S?>z_  
    mrmm@?  
    说明:探测器 VAW:h5j2@  
    w#6)XR|+,.  
    Ec/&?|$  
    4y*"w*L  
    结果:3D光线追迹 F $/7X~*  
    M$u.lI  
    W&~\@j]!D  
    i~3\jD=<  
    结果:场追迹矩形光栅 K_! R   
    4Jn+Ot.,d  
    @7HHi~1JK  
    '\B0#z3  
    结果:场追迹锯齿形光栅 h"0)g :\  
    QM('bbN  
     
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