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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 (1,4egMpR  
    T~>&m~} +  
     p<VW;1bt5  
    J(~xU0gd'  
    亮点 G*v,-O  
    kSJ:4!lFU  
     ht:L L#b*(  
    }Ny~.EV5^  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 X bV?=  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 /[3!kW  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 0O q5;5  
    *!EHs04  
    说明：光源 +c'I7bBr  
    @[(%b{TE;  
    |qk%UN<  
    P.|g4EdND  
    说明：透镜系统 %D^j7`Z  
    ht)KS9Xu  
    Z}O0DfT;  
     Io;26F""  
    说明：样品结构 &kOb#\11u  
    z:$TW{%M  
    J0Y-e39 `  
    Lj3q?>D*^6  
    说明：探测器 \AR3DDm  
    k.0pPl  
    0xutG/-&N  
    5al44[  
    结果：3D光线追迹 5.)/gK2$  
    Lop=._W  
     s&OwVQ<M  
    f1VA61z{)  
    结果：场追迹矩形光栅 #lm1"~`5  
    qoD M!~  
    K[|d7e  
      )2,\Y  
    结果：场追迹锯齿形光栅 t#J #DyY5  
    d7QQ5FiB  
     
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