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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-24
    任务/系统描述 /k3v\Jq{  
    1w}%>e-S  
     ]NS{q85  
    X(Gp3lG  
    亮点 >[;+QVr;  
    ?4Z`^uy  
     uc]]zI6  
    ~;nh|v/e  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 <U(wLG'XS  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 H^{Eh  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Q@gmtAp  
    .}Va~[0j  
    说明：光源 -J8&!S8X  
    T:&  
    $d 2mcwh\  
    4Cs |F7R  
    说明：透镜系统 H1iewsfzH  
    mm(Ff>O  
    7}>7@W8  
     KECo7i=e  
    说明：样品结构 OKs1irt5  
    t]LOBy-Kv  
    P%M Yr"<$E  
    X6I"&yct  
    说明：探测器 qyzmjV6J2  
    g{wOq{7V  
    #!="b8F  
    ,TL8`  
    结果：3D光线追迹 7.Df2_)  
    Lky<L96  
     wWjZXsOd  
    J:g4ES-/   
    结果：场追迹矩形光栅 v4c*6(m  
    S"+X+Oxp7?  
    1vw [{.wC  
     j4pxu/2  
    结果：场追迹锯齿形光栅 XFJGL!wWm[  
    l*eJa38  
     
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