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任务/系统说明 y5 bELWA LjA>H>8%[  B|n<{g[-cM ](H
vx 亮点 IOi 6'
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'HDbU#vD Uw5`zl 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） cYMlc wS 严格分析光栅衍射效率 '^Ce9r} 考虑入射光的方向分布 +R?d6IjH jNA ^
(|: 说明：光源 z!6:D t6^ /K]<7  @7aSq-(_l* H:HJHd"W 说明：光束分束器 0jN ?5j [1*3 kt*h  h .Iscr^~ ^J=l] l 说明：检测透镜系统 7!E?(3$#" Qm X(s  *. DTcV kWgZIkY 说明：微型晶片 -a[] #v9 WwF4`kx T  BEzF'<Z
TVP. )% 说明：检测物镜 eiaL zI,O ]' F{uDm[  Ppzd.=E kgvB80$4 说明：探测器 #D$vH )k8=< =s  *kXSl73 k *8uSy/l 结果：3D光线追迹（只有0级） btK| U bV#U&)|  XK
(y ?Y1 w`vJ E!4B 结果：3D光线追迹（所有级） M[ (mH(j s9<fPv0w  AFWcTz6 #d n7"e 79 结果：光线追迹 ai(<"| ( Ey 77]\
 3:i4DBp,i L)'JkX J 结果：场追迹 U
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 :>$)Snqo=n 3,bA&c 3 结果：线性偏振光的场追迹 EdA_Hf ~y}M
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