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任务/系统说明 .&Ik(792Z& S\jIs [Dz ov xX.hO V#Pz`D 亮点 *K#Ci1Q paYvYK-K?
Au"7w=G`f <&CzM"\Em 在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) n/
m7+=]v 严格分析光栅衍射效率 [&MhAzF 考虑入射光的方向分布 PrQs_tNi CqAv^n7 } 说明:光源 h*lU&8)m\ i
w(4!,4~ :c/](M p E56CM 说明:光束分束器 sry`EkS )4O* D92 8|2I/#F}] (X|`|Y 说明:检测透镜系统 |M$ESj4@ y9::m]s kN8?.V%Utw ;p8,=w 说明:微型晶片 nq,P.~l |]=s WoSJp5By$ p6*|)}T_% 说明:检测物镜 z@tIC^s F#>^S9Gml mA" 82" :G/.h[\R| 说明:探测器 'kE^oX_ nNP{>\x;" Ks/Uyu. X =5D@~?W ZG 结果:3D光线追迹(只有0级) R1j)0b6cQ% l
]CnLqf& r4wnfy wPRs.(]_ 结果:3D光线追迹(所有级) \?K>~{) cuUlr =7P(T`j `7o(CcF6H 结果:光线追迹 ?cmv;KV
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5;yVA *p>1s!i 结果:场追迹 [*2|#KSCX qE)G;Y<,1
"PtOe[Xk f^D4aEU 结果:线性偏振光的场追迹 6H:'_|G ?D]qw4 J  lBcRt)_O7
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