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摘要 G=Hvh=K(
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干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 U8 qb2'a8
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 ,%7>%*nhk O4J <u-E$ 建模任务 p A7& \=PnC}7I  $Y* d ' >
tIfA]pE 元件倾斜引起的干涉条纹 @ -CZa^g _ K["qm{X_
 _ Y@vO vFm8 T58 7 元件移动引起的干涉条纹 %0 l'Nuz
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 Pj(Dl C7G, vYb. Ub+ VirtualLab Fusion工作流程 pFb }5Q MJ "ug8 N −基本源模型[教程视频] 6Hoc F/Ye
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II：位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] & -L$B
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