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摘要 WM)-J^)BJ
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干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 $9S(_xdI&
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 1SrJ6W @j[ e^ lWR] v 建模任务 ~+Z{ Q25R S1/`th  _ Ro! "YVX
ho>k$s? 元件倾斜引起的干涉条纹 M-i_#E WP /m!Cc/Hv
 }E`dZW*!! _-5,z P R 元件移动引起的干涉条纹 7Sz?S_N/j
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pKEaY VirtualLab Fusion工作流程 5s{ABJ\@V }8;[O
9 −基本源模型[教程视频] d&#~ h:~
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II：位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] v=('{/^~>
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