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摘要 L]kd.JJvy
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干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 psFY=^69o
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 js..k*j rijavZS6 建模任务 w5+H9R6 LpYG!K l  BH"OphE
x=M% QFe 元件倾斜引起的干涉条纹 X;&Iu{&= tSVWO] <
 [` 4 >2t.7UhDI 元件移动引起的干涉条纹 S
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II：位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] 9?XQB%44
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mPL0s VirtualLab Fusion技术 kz\ Ss|jl
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xme N<PDQ 文件信息 2{Y~jYt{h XkPE%m_5D
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er8T:.Py QQ：2987619807 l+a1 `O
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