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摘要 -v-kFzu %8wBZ~1- 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 ||fw!8E 'HJ+)[0X*
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) !#~KSO}zW2 建模任务 (EvYrm4 %@)R `Tf}h8* d3
i(UN] 元件倾斜引起的干涉条纹 A+GRTwj ,|A6l?iV
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~M −基本源模型[教程视频] [[]yQ
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] Pz[UAJ ms;zC/
r]&sXKDc ^;h\#S[% VirtualLab Fusion技术 8_w6% md 4H;7GNu
f3qR7%X? /4OQx0Xmm 文件信息 B~k{f} Mpyza%zj
gK;dfrU.8Y ("PZ!z1m1 |bSAn*6b QQ:2987619807 .a :7|L#a
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