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摘要 TGPHjSZ1 Yf^/YLLS 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 Vg"Ze[dA
n%P,"V
wsCT9&p P,Rqv)}X 建模任务 ^TY8,qDA A}n5dg0u j: B,K.: +&TcTu#.` 元件倾斜引起的干涉条纹 }A_>J7w 27jZ~Bp$
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Toqq 元件移动引起的干涉条纹 8 K>Ejr vro5G')
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3H47 vm(` =R\-mov$ VirtualLab Fusion工作流程 rO{"jJ
FwGMrJW −基本源模型[教程视频] uv
dx>5]
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] Aonq;} V e -?<L"u
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