左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
8k95IJR1 系统简介 *9"x0bth
hK{H7Ey* ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 Mn(i Asg '"fJA/O 特征及技术参数 itP`{[
gr SF}y!3 - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， !CWe1Dm - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） q50F!yHC- - 入射光与探测器可共面或异面。 <kdlXS>J. - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 s@ r{TXEn - 可对样品进行扫描。 \O;2^ - 动态范围： 13个数量级。 (_zlCH B - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 W N+i 3hC - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 D<;~eZ' - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 @wgd
3BU - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 PQkw)D<n]_ - 方便操作的测量及分析软件。 )Q'E^[Ua - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 9Q%lS >Ua'* 应用 Sy|GM~
u1$6:"2@5k 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 )&c#?wx'w - 产品质量检测。 m+hI3@j - 光学性能分析。 GYfOwV!zB - 粗糙度分析。 3NtUB;! xKG7d8=
w!7ApEH1 QQ：2987619807 cdt9hH`Cd
