左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
bvu<IXX=2 系统简介 GH+FZ (F
?Nze P?g ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 !#4 HGjPI E?h2e~ ,] 特征及技术参数 BaTO h'52
!2M[ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， C\ >Mt - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） sS2E8Z2 - 入射光与探测器可共面或异面。 3) Awj++ - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 + :Q/<^Z - 可对样品进行扫描。 T& MS_E&; - 动态范围： 13个数量级。 I4X+'f W, - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 U1!2nJ] - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 OO+#KyU - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 yr
9)ga% - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 ~0r.3KTl"Y - 方便操作的测量及分析软件。 j{ -7Pf8A - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 L.%~?T[F M "P 应用 oUKbzr/C
'CAukk| 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 rxI&;F# - 产品质量检测。 Y^m=_*1g5 - 光学性能分析。 gsm^{jB - 粗糙度分析。 =RE_Urt: ,u^0V"hJ
A*U'SCg(G QQ：2987619807 /F}\V
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