左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
ut;KphvSH 系统简介 px.]m-
m4kUA"n5 ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 4p_@f^v~QH Q
OP8{~O 特征及技术参数 n"Q fW~ U
1dX) l - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， d#wK - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） NpF}~$2 - 入射光与探测器可共面或异面。 Gzu $ - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 X P_ V - 可对样品进行扫描。 >l|dLyiae - 动态范围： 13个数量级。 0i65.4sK - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 E|
=~rIKN - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 IDr$Vu4LCW - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 |&a[@(N:zf - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 k84 JDPu# - 方便操作的测量及分析软件。 ZV mgQ7m - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 (_O_zu8_ LuIs4&[EW 应用 7U {g' <
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NIf@ 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 ~",,&>#[K - 产品质量检测。 nH]F$'rtA - 光学性能分析。 JK9}Kb}; - 粗糙度分析。 nFfwVqV w/m ~#`a
4`+hX' QQ：2987619807 K# d V.
