左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
Midy" 系统简介 kep/+ J-u
,\n& I( ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 g8xQ|px 6ne7]R Y 特征及技术参数 iQ
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3ojlB |Z - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， t@N=kV - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） lXiK Y@R# - 入射光与探测器可共面或异面。 kZZh"#W: L - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 _p&]|~a - 可对样品进行扫描。 2Yn <2U/^R - 动态范围： 13个数量级。 p@5`& Em, - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 SB|Qa}62 - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 / 1Q(b - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 Md2>3- - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 (Dl$k Gn - 方便操作的测量及分析软件。 u\{ g(li-I - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 /! $c/ QZ W 7\f1}]H 应用 ytoo~n
3.W@ } 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 L=8<B=QT$ - 产品质量检测。 $yYO_ZBiy - 光学性能分析。 >>o dZL - 粗糙度分析。
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-}=%/|\FG QQ：2987619807 7Ka l"Ew
