左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
c%?31 t 系统简介 ?o0ro?9j
k4@$vxy0 ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 397IbZ\ ,}8|[)" 特征及技术参数 whoM$ &
=I(F(AE - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， ~OdE!! - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） rzl0*CR - 入射光与探测器可共面或异面。 *F4"mr|\ - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 O1C| {
M - 可对样品进行扫描。 Y! 8 I - 动态范围： 13个数量级。 "#ctT-g`6 - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 s2IjZF { - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 seNJ 6p=` - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 ET2 ^1X#j - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 T6Oah:50EM - 方便操作的测量及分析软件。 ^0x0 r Y - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 JI)@h 4b W{)RJ 1 应用 &1Zq C;
XWuHH ;~*L 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 By&ibN), - 产品质量检测。 sWG_MEbu - 光学性能分析。 -gq,^j5, - 粗糙度分析。 47/14rY
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o QQ：2987619807 NQ9/ ,M
