左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
9f5~hBlo 系统简介 X.,R%>O}`P
;E5XH"L\ ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 H1KXAy`& G v
} 特征及技术参数 ) hoVB
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KR R - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， 7Q~W}`Qv' - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） hb/Z {T' - 入射光与探测器可共面或异面。 f;l}Z|dok6 - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 |E||e10wR - 可对样品进行扫描。 <mTo54g - 动态范围： 13个数量级。 A =e1uBGA - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 F{.g05^y - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 ]~f-8!$$R - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 xy$aFPH!- - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 G i$\th, - 方便操作的测量及分析软件。 Z C<EPUV( - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 0JR )-* D; +Y0B 应用 ncOl}\Q9
yT7{,Z7t 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 \ :q @I]2 - 产品质量检测。 t
U~q4$qqE - 光学性能分析。 h4Arg~Or - 粗糙度分析。 Q`Pe4CrWvu m]
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