左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
9YvMJ 系统简介 t7~mW$}O
Q2NS> [ ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 BShZ)t =djzE`)0 特征及技术参数 G!Uq#l>
~M\s! !t3 - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， GN>T } - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） R4v=i)A~Z - 入射光与探测器可共面或异面。 5q) E ed - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 2HTZ, W - 可对样品进行扫描。 -,i1T(p1 - 动态范围： 13个数量级。 /stED{j, - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 |FNP~5v - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 nnE@1X3 - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 o?X\,}-s - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 5( F!* 6i> - 方便操作的测量及分析软件。 f {)*" - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 n BD 7 91 ,\y 应用 2
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\fKv+ 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 *|jqRfa" - 产品质量检测。 N2~z&y8. - 光学性能分析。 c^=:]^ - 粗糙度分析。 kO5KZ;+N- B02~/9*Y"
r|#4+' QQ：2987619807
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