左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
$jNp-5+Q; 系统简介 O xr?y8C~
y%xn(Bn ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 -,} pp TG qJLtqv 特征及技术参数 hFr?84sAd
Wj#Gm - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， uNG?`>4> - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） 9`v[Jm% $m - 入射光与探测器可共面或异面。 &ajpD sz; - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 ^FN(wvqb8 - 可对样品进行扫描。 kV3Zt@+ - 动态范围： 13个数量级。 *8j2i u-| - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 O;~d ao - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 $_NP4V8|z/ - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 8Qi@z Jq, - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 mqb6 MnK - - 方便操作的测量及分析软件。 oN
" /w~ - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 pm}!?TL Oj^qh+r 应用 VJ$UpqVm
:s`\j J 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 |HMpVT-;j - 产品质量检测。 xk$U+8K - 光学性能分析。 63n<4VSH - 粗糙度分析。 =)9@rV&~ q/HwcX+[b
8m;tgMFO QQ：2987619807 $E]W U?U
