左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
|S.G# za 系统简介 Q ^X
m=D2|WA8 ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 k7JE{ (Ok +v.uP [H 特征及技术参数 |/<,71Ae
gY\ X? - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， Z`x|\jI - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） P ^V,"B8t - 入射光与探测器可共面或异面。 nZZNx
- 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 -!MrG6 8 - 可对样品进行扫描。 HT&CbEa4' - 动态范围： 13个数量级。 A q' yr,
- 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 j1{|3#5V - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 p F kA, - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 B1< :nl - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 S_; 5mb+b - 方便操作的测量及分析软件。 n@5Sp2p - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 E;!pK9wL| ;1qE:x}'H 应用 7P1G^)
3AR vSz@5 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 j>j Zg<}J - 产品质量检测。 .T~<[0Ex+U - 光学性能分析。 .Zo %6[X - 粗糙度分析。 h OYm
=r +&hhj~ I.
,b[}22 QQ：2987619807 j("$qp v
