左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
3|!3R'g/ > 系统简介 l$1 ?@l$j
-HGRr WS ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 >d`GNE kSiyMDY- 特征及技术参数 #/ePpSyD
@p~s cE.#\ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， EUs9BJFP - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） Q9 AvNj>X - 入射光与探测器可共面或异面。 x-c5iahp' - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 Zo xblk - 可对样品进行扫描。 ;6 W[%{ - 动态范围： 13个数量级。 XYR
q"{Id - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 9QX!HQ|5y8 - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 m-$}'mEO - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 %\-E
R !b - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 m8PS84."]M - 方便操作的测量及分析软件。 |hj!NhBe - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 a T( ] i`e[Vwe2x@ 应用 ZHjL8Iq
?;v\wx 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 IagM#}m@ - 产品质量检测。 }wRm ~ - 光学性能分析。 ]QHp?Ii1 - 粗糙度分析。 uWKmINjv' fZ &
~C^:SND7 QQ：2987619807 Z8Ig,
