左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
D+?/MrP 系统简介 $j*%}x~[
c'n EbelE ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 -b+VzVJ Z _MQ) 特征及技术参数 ~pA_E!3W
r'xZF~}k"~ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， Rhh5r0 \5 - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） (`PgvBL: - 入射光与探测器可共面或异面。 4b]/2H - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 i356m9j - 可对样品进行扫描。 {/`iZzPg - 动态范围： 13个数量级。 m UY+v>F - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 GJN"43 - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 (c;F%m| - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 (UWWULV - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 v3!oY t:l - 方便操作的测量及分析软件。 |}N -5U - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 vgY )
L |}s)W o 应用 xtW Q.
Oz(0$c 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 sy`@q<h( - 产品质量检测。 m
" ' - 光学性能分析。 ("-Co,4ey - 粗糙度分析。 B M5+;h ! 3lzjY.]Pgv
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