左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
$KcAB0 B8 系统简介 lH fZw})d
q|5WHB ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 .EYL 9~ p;iiKGG 特征及技术参数 :J;U~emq
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j - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， ;R$G.5h - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） " <bjS - 入射光与探测器可共面或异面。 z :'m50' - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 +'H[4g` - 可对样品进行扫描。 a %go[_w - 动态范围： 13个数量级。 j/v>,MM - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 Y;af|?U*6: - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 t Cuvb - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 g%2G=gR$?z - 样本规格：最大尺寸直径700mm。
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s Y?C - 方便操作的测量及分析软件。 y"?`MzcJ0 - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 G<Z}G8FW^ Nr4Fp`b8 应用 a )O"PA}2
] 0i [= 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 _ z_YJ7A> - 产品质量检测。 ui]iO p - 光学性能分析。 5n PvEN/ - 粗糙度分析。 >N3X/8KL% L5hF-Ek!
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