左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
;E_{Zji_e 系统简介 stScz#!
,\IZ/1 ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 e)8iPu .. YFY)Z7fK 特征及技术参数 ml2HA4X&$Y
?*0kQ o' - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， bzS [X - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） {I
,' - 入射光与探测器可共面或异面。 3lqhjA - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 =r2d{ - 可对样品进行扫描。 WF7RMQ51j - 动态范围： 13个数量级。 Z^ 3Risi - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 .nN 7*))Fj - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 #</yX5!V - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 PE>_;k-@k - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 IYFA>*Es - 方便操作的测量及分析软件。 195(Kr<5$ - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 fi)ypv* ([|M,P6e)U 应用 eAj}/2y"
YL+W 4 ld 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 AKVmUS;70 - 产品质量检测。 'n=D$j]X - 光学性能分析。 KK}&4^q - 粗糙度分析。 l;ugrAo? gQ[4{+DSf
"x)W 3C%*S QQ：2987619807 l)H u.1~
