左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
%FDv6peH 系统简介 88GS Bg:YH
~_ 8X%ut y ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 *QIlh""6 _8f?
H#& 特征及技术参数 q kEre
k\qF> = - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， *&d>V k."] - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） M'n2 j - 入射光与探测器可共面或异面。 _shoh - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 S {q c1qj - 可对样品进行扫描。 4NY}=e5 - 动态范围： 13个数量级。 O_M2 Axm - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 IsC`r7 - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 \x,q(npHi - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 $hn=MOMc - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 xE2sb* - 方便操作的测量及分析软件。 KXQ &u{[< - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 _>G. u?J!3ZEtb 应用 r\+0J`
]r^/:M 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 /*zngp @ - 产品质量检测。 1 ^x "P #u - 光学性能分析。 PLkwtDi+& - 粗糙度分析。 RWe$ZZSz! 8R) 0|v&;
|[ RoR QQ：2987619807 a+U^mPe
