左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
t -iXY0%& 系统简介 E 6TeZ%g
Zek@xr;] ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 /)sP, 2/ *v+ l,z4n 特征及技术参数 N7_eLhPt*8
$qQYxx@ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， RTcxZ/\" # - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） 0N$7(. - 入射光与探测器可共面或异面。 k8+ J7(_c - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 LBCH7@V1yR - 可对样品进行扫描。 (yq e 4 - 动态范围： 13个数量级。 5lG\ Z ? - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 0]|`*f&p; - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 YQ G< Q - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 n9+33^ PT - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 s X%n` L - 方便操作的测量及分析软件。 FpRYffT 9u - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 O D}RnKL ^[x cfTN 应用 &< BBP n@\
* #XZ*Ga 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 x950,`zy - 产品质量检测。 ^el+ej/= - 光学性能分析。 e.n( NW - 粗糙度分析。 wc;n=
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?7 aZU QQ：2987619807 +)sX8zb*gY
