左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
z+zEH9.' 系统简介 IaO&f<^#o
3 `N SSS ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 n +2>jY ?_T[ ]I' 特征及技术参数 *|;`G p
RfT)dS+rAh - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， ,<s:*
k - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） /^X)>1)j - 入射光与探测器可共面或异面。 )FfS7 C\. - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 [N" =rY4G - 可对样品进行扫描。 !> GDp >0 - 动态范围： 13个数量级。 BD]o+ 96qP - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 {V8uk $ - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 3l$ D%y - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 ~I~lb/ - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 Ie s` !W^ - 方便操作的测量及分析软件。 .VohW=D3 - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 J?hs \nA p
)WRsJ8 应用 {*<%6?
0 ;4 YU%u 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 T!^v^m@>y - 产品质量检测。 WKw YSbs( - 光学性能分析。 *,=8x\Shp - 粗糙度分析。 10N0?K" `-?`H>+OG
z2#k /3%o= QQ：2987619807 :0bjP Qj
