左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
b-R!oP+vP 系统简介 CnyCEIO-
J4 [7*v ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 Y SERQo 2 Pn 特征及技术参数 C9>tj=yEY
0Ou;MU*v - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， KLD)h,] - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） !dQG 5v - 入射光与探测器可共面或异面。 S^0Po% d - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 b y; %k/ - 可对样品进行扫描。 O|j (CaF - 动态范围： 13个数量级。 ))f%3_H - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 ^]:w5\DG - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 4TcKs}z - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 ZYDLl8 - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 R!IODXP= - 方便操作的测量及分析软件。 1sp>UBG - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 SXkUtY$ W FVx7 应用
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:L gFd 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 *y
+T(73 - 产品质量检测。 X +zFRL% - 光学性能分析。 a9S0glbwf - 粗糙度分析。 Pf&\2_H3s9 ;|_aACina
;Q"xXT`;: QQ：2987619807 Sc03vfmo"N
