左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
['MG/FKuv 系统简介 n+M:0{Y|
?Mg&e/^ ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 Bf;dp`(/ k;w1y( 特征及技术参数 3hOiHO
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#cqia0.H - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， <|NP!eMsw8 - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） a{7>7%[ - 入射光与探测器可共面或异面。 &i8AB{OU - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 #ra~Yb-F - 可对样品进行扫描。 2Y)3Ue - 动态范围： 13个数量级。 /RuGh8qzP - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 8I)66 - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 `/:ZB6 - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 O!}TZfC - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 Fg)Iw<7_2 - 方便操作的测量及分析软件。 .$/Su3]K/ - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 O+Fu zCWj + RX{ 应用 W c4F'}s
1MH[-=[ Q 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 ,YYyFMC7S - 产品质量检测。 m]8rljo - 光学性能分析。 (c ?OcwTH - 粗糙度分析。 <FIc! wR\Y +Z
|*W`}i QQ：2987619807 $R3]y9`?
