左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
n~LR=o 系统简介 b\?`721BG
:}lE@Y,R ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 8cHZBM7' ^,3 >}PU 特征及技术参数 IKt9=T x
;iEq a"gO - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， Aq-v3$XL - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） {)+/w"^. - 入射光与探测器可共面或异面。 u^uW< .#z - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 ZISR]xay - 可对样品进行扫描。 5HB4B <2 - 动态范围： 13个数量级。 }v: h EMO - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 x-"7{@lz
- 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 FUQT ,7CA - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 C]k\GlhB - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 uzS57 O% - 方便操作的测量及分析软件。 9wYbY* j - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 8w\ &QX KP
i@wl3 应用 wz ,woF|
~DSle 3 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 ji1A>jepF - 产品质量检测。 TZ/u"' ZS - 光学性能分析。 &CS= *)>$ - 粗糙度分析。 !U91 )_Bte Lo-
:r\<DVj QQ：2987619807 )TxhJB5|
