左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
7Y:s6 R| 系统简介 xE_[ = 7=
UUq9UV-h ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 1| DI'e[X Q2JjBV< 特征及技术参数 {o`5&EoM
rfoCYsX' - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， g*M3;G
- 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） ^(:Rbsl - 入射光与探测器可共面或异面。 i,T{SV - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 Rw`s O:eZ - 可对样品进行扫描。 >0oc=9H8 - 动态范围： 13个数量级。 &tIm - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 Y ~!@ - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 ~Y[1 Me - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 mgWtjV 8 - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 ?dYDfyFfB - 方便操作的测量及分析软件。 m>_'f{&u - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 u 36;;z CjG I }t 应用 +qec>ALAg
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PqV| 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 <0m;|Ai'W - 产品质量检测。 oL;/Qan - 光学性能分析。 @gOg s - 粗糙度分析。 -(EqBr@_ \Wk$>?+#@
l-rnDl QQ：2987619807 8J0tya"z
