左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
tep_g4CQR_ 系统简介 8 &: *<
8" l9W= ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 v`#T)5gl- C^I h"S 特征及技术参数 Qa~dd{?
%cJ]Ds %V - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， fXCx!3m - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） zB`)\ - 入射光与探测器可共面或异面。 zS*GYE(l^ - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 4SSq5Ve< - 可对样品进行扫描。 rSDS9Vf( - 动态范围： 13个数量级。 Iu`e QG - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 ) >0 8{7 - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 i )=!U>B_0 - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 #"% ]1={b - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 `~Nd4EA) 2 - 方便操作的测量及分析软件。 H)aeS F5 - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 ,p6X3zY 9NvV{WI-1 应用 (5Q,d [B
~$ } `R= 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 6-C9[[g< - 产品质量检测。 ;(M`Wy]2 - 光学性能分析。 v`8dRVN - 粗糙度分析。 Uv'.]#H< u1 d{|fF
PW)XDo7 QQ：2987619807 sxcpWSGA^
