左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
\|L ~#{a 系统简介 hdXdz aNS
am]$`7R5 d ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 >MauuL,.j s oRt< 83 特征及技术参数 f-E]!\Pg
=EA*h _"q9 - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， Cb%?s - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） Bl F>TI%2 - 入射光与探测器可共面或异面。 'j 'bhG - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 1(CpTaa - 可对样品进行扫描。 D'$ki[{, - 动态范围： 13个数量级。
:,h47'0A - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 /bjyV]N - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 w4\b^iJ z - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 n{s
`XyH - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 zWb>y - 方便操作的测量及分析软件。 \tc 4DS - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 Z@nWx]iz R4.$9_ ui 应用 'vq-~y5^#
xc 7Wk&{= 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 D(yU:^L - 产品质量检测。 $b,o 3eC - 光学性能分析。 ae`*0wb v - 粗糙度分析。 3xj
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s.d }*H-o QQ：2987619807 v9QR,b` n
