左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
#cEq_[yI 系统简介 cq^sq1A:
3GmK3uM ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 12r ` ) Jc~E"x 特征及技术参数 &R\XUxI
B {i&~k - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， z(d4)z 8'6 - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） 8SD}nFQ - 入射光与探测器可共面或异面。 f
L k"tW - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 TSyzdnMvz - 可对样品进行扫描。 V}`M<A6: - 动态范围： 13个数量级。 pa]
TeH - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 mvf
_@2^ - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 jCW u\Oe - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 c=t*I0-OVS - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 @bQ!zCI - 方便操作的测量及分析软件。 .D@/y uV - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 `p" U ._BB+G 应用 @c"yA y^t
ip5u_Xj ? 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 x[m'FsR4 - 产品质量检测。 .xv ^G?GG - 光学性能分析。 dt.-C_MO - 粗糙度分析。 S 1>Z6 <<BQYU)Ig
|2UauTp5yK QQ：2987619807 n^Au*'
