左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
0ltq~K 系统简介 a{69JY5
s'fHh G6 ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 0P\)L `cG nY}Ep\g 特征及技术参数 :)?w 2'O
0 j4bu}@ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， hq$:62NYg - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） [ZOo%"M _Y - 入射光与探测器可共面或异面。 FrB}2 - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 JyY g)f - 可对样品进行扫描。 RP z0WP - 动态范围： 13个数量级。 O\B_=KWDO - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 *V3 }L
Z - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 N ~g 'Z
` - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 ;&^S-+ - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 + 'hcFZn(T - 方便操作的测量及分析软件。 lJu2}XR iU - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 &D>e>]E|P |AuN5|ob I 应用 "M6:)h9jV
Yep(,J~' 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 Zz,E4+'Rm - 产品质量检测。 \qi=Us|= - 光学性能分析。 >j_,3{eJ - 粗糙度分析。 *ukugg. 6}n>Nb;L"
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