左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
#B;~i6h] 系统简介 qdlz# -B
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"| ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 0@FZQ$- 1eg/<4]hA 特征及技术参数 =F(fum;zH
F"3LG" - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， ` ^ rN"\ - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） (<= &#e? - 入射光与探测器可共面或异面。 j k%MP6 - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 $VWe o#b - 可对样品进行扫描。 5h"moh9tG - 动态范围： 13个数量级。 :YL`GSl - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 r%M.rYLG{ - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 UStNUNCq - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 *r Y@(| - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 eXHk6[%[ - 方便操作的测量及分析软件。 DNARe!pK - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 =}:9y6QR. 9?Vy F'r= 应用 t0 [H_
&P+7Um( 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 ]et4B +=i - 产品质量检测。 6x1 !!X+)+ - 光学性能分析。 C'HW`rh.^ - 粗糙度分析。 T gpf0( P'.M.I@
n:hHm, QQ：2987619807 8PWx>}XPt
