左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
P4zwT Ek` 系统简介 .Cf! 5[0E
##%&*vh ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 `8r$b/6 ~%2yDhdQ 特征及技术参数 9)8Cf% <(
!9{UBAh - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， puLgc$? - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） B&7NF}CF2 - 入射光与探测器可共面或异面。 -k@1# c+z - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 L [Ot$ - 可对样品进行扫描。 oHr0;4Lg6 - 动态范围： 13个数量级。 Y9g w
('\w - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 p/88mMr - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 9]{va"pe7 - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 4 l{$dtKbI - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 Bd7 B\zM - 方便操作的测量及分析软件。 l p(D@F T - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 BY&{fWUo ,"KfZ f;? 应用 GXIzAB(
~o/k?l 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 h@Jg9AM - 产品质量检测。 <f`n[QD2z - 光学性能分析。 V2|By,. - 粗糙度分析。 t|V<K^ }6BXa
YU" /p|!1 QQ：2987619807 SO.u0!
