左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
t|urvoz 系统简介 FuC#w 9_
%W}YtDf\ ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 DD5cUlOSu u>ZH-nw O 特征及技术参数 8vkCmV
Etn uEU - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， redMlHM - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） WA6re Z - 入射光与探测器可共面或异面。 P3!JA)p6a - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 a[V X)w_W{ - 可对样品进行扫描。 |2E:]wT}qg - 动态范围： 13个数量级。 U?%T~! - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 _z=yt t9D - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 `@xnpA]l - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 cG"wj$'w - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 8 e5im ei - 方便操作的测量及分析软件。 6&+}Hhe - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 e'yw8U5E/ wpWZn[j 应用 %Rt
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+~>cAWZq_ 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 tkYPfUvTE - 产品质量检测。 Bz(L}V ]\k - 光学性能分析。 e Z]>;5 - 粗糙度分析。 e45)t}' +B[XTn,Cru
C#V _Gb QQ：2987619807 ;qO3m -(d
