左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
#l_hiD`;r 系统简介 i
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G1/ ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 TXK82qTdf M}`G}* 特征及技术参数 _u8d`7$*%
S{c;n*x f - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， vaj-|&
- 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） A@JZK+WB} - 入射光与探测器可共面或异面。 ph=U<D4 - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 H?j!f$sw - 可对样品进行扫描。 pc/]t^]p - 动态范围： 13个数量级。 .l~g`._ - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 (Kaunp5_` - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 W&Kjh|[1QZ - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 5gY9D!;:0D - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 VHTr;(]hk - 方便操作的测量及分析软件。 'A9 U[| - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 is}Y+^j. = j
S 应用 2?\L#=<F
=bB7$# al 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 nAW`G'V# - 产品质量检测。 |iB
svI: - 光学性能分析。 c9R|0Yn^J - 粗糙度分析。 :*s+X$x,< =E'
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V2_I=]p_ QQ：2987619807 ^ _pJEX
