左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
8[L]w^ 系统简介 "5b4fQ;x
Qv;q*4_ ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 tf4cl zSTa $8 WeWmY 特征及技术参数 i<-a-Z+^
BNq6dz$ J - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， oz&RNB.K - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） t-?#x
- 入射光与探测器可共面或异面。 *^i"q\n5( - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 V#TNv 0&0 - 可对样品进行扫描。 ra}t#Xt` - 动态范围： 13个数量级。 (o518fmR - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 rbc7CPq_^ - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 Ws;X;7tS - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 }.N~ jx0R - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 ( 7w9 5xI - 方便操作的测量及分析软件。 j5MUP&/g3 - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 CS\8ej}y NuR3]Ja\0 应用 L!0}&i;u~5
("P]bU+'> 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 j|%>NB ): - 产品质量检测。 }.r) - 光学性能分析。 (CrP6]= - 粗糙度分析。 VU;98 VfkQc$/
vY);7 QQ：2987619807 &EJ/Rl
