左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
-] wEk%j 系统简介 4Q !A w
NsI. mTc2 ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 U!uPf:p2 gcnX^[`S 特征及技术参数 1\}XL=BE
5r)8MklZ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， ;8oe -xS\+ - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） LEM%B??&5z - 入射光与探测器可共面或异面。 'IY?=#xr'` - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 a X1b(h2 - 可对样品进行扫描。 oeg
Bk - 动态范围： 13个数量级。 fY^CI b$Y - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 +D5gbxZX - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 t Cb34Wpf - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 (s&:D`e - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 %|e)s_%XE - 方便操作的测量及分析软件。 =/K)h I!u - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 eP" B3Jw @'>RGaP V 应用 qkKl;Z?Y:
/-v ; 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析
g*a+$' - 产品质量检测。 -$"$r ~ad - 光学性能分析。 z'l
H L - 粗糙度分析。 wH8J?j" 5> HnArj_E
0 U~$u QQ：2987619807 Q>D//_TF
