左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
E1ob+h:`d 系统简介 X6*y/KG N
.-~% w ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 wR+`("2{r V//q$/&8( 特征及技术参数 _v=WjN
[K@!JY - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， :O+b4R+ - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） safS>wM] - 入射光与探测器可共面或异面。 `/ReJj&~ - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 {ZEXlNPww - 可对样品进行扫描。 f vMh q:Bu - 动态范围： 13个数量级。 9l_?n@ - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 r_sl~^* : - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 UMW^0>Z!v - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 oqHm:u ^2 - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 WM
)g(i~( - 方便操作的测量及分析软件。 RW [<e - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 +Qb/:xQu %vYlu%c< 应用 7.rZ%1N
H FWm}vA: 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 c!wB'~MS# - 产品质量检测。 w/W?/ 1P>q - 光学性能分析。 7#. PMyK9 - 粗糙度分析。 QGG(I 7{- H>X1(sh#}
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