左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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* _>& 系统简介 s?C&s|'.
yj_4gxJ\ ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 ,d_Gn! F]+ ~ x /! 特征及技术参数 y2|R.EU\m<
q3P+9/6 - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， *rh,"Zo - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） $8~e}8dt| - 入射光与探测器可共面或异面。 `[fx yg:u - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。
fV\]L4% - 可对样品进行扫描。 s!B/WsK - 动态范围： 13个数量级。 B.dT)@Lx0 - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 :iF%cy. - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 >3.X? - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 g(E"4M@t! - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 `3_lI~=eH - 方便操作的测量及分析软件。 [1yq{n= - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 8|^CK|m6* ]9 w76Z 应用 En VuD
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{KL5GowH 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 ~+6Vdx m - 产品质量检测。 "sUyHt -& - 光学性能分析。 aM3gRp51cj - 粗糙度分析。 F>hZ{ q(M:QWA q
jM)C4ii.-$ QQ：2987619807 cmwPuK$
