左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
" j:15m5 系统简介 myB!\ WY
, - _ReL ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 NE Z ]% ]O~ /k~f 特征及技术参数 8)J,jh9q
>~&7D`O - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， p\xsW "=8q - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） >
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? - 入射光与探测器可共面或异面。 S_Vquw(+ - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 \BSPv]d - 可对样品进行扫描。 dw7h@9\ y - 动态范围： 13个数量级。 ` $[`C/h - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 o2LUB)=R' - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 $U%N$_k? - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 @2 SL$0!QA - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 ~ o5h}OU" - 方便操作的测量及分析软件。 Q\$cBSJC1 - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 !i=k =l = ||4++84{ 应用 Zr;(a;QKs
cp+eh 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 n\YWWW[wf - 产品质量检测。 m RtE~~p - 光学性能分析。 2 3`pog{n - 粗糙度分析。 0y#TGM|0D j<i: rk|
e 1K{*h QQ：2987619807 v=+> ids
