左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
rX2 .i7i, 系统简介 _l8 9
I&x= ; ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 L 0TFo_ iv J@=pd)B 特征及技术参数 8;JWK3Gv
n{ar gI8wF - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF，
@niHl - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） t.i 8
2Q - 入射光与探测器可共面或异面。 f.KN-f8<F - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 Ng2twfSl$ - 可对样品进行扫描。 vN;N/mL - 动态范围： 13个数量级。 r@H /kD - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 &]|?o_p3W - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 TNe l/ - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 8;RUf~q? - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 0ypNUG} - 方便操作的测量及分析软件。 &5B'nk" - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 3u+T~g0^ y51e%n$ 应用 \ C+~m
p>v$F iV2N 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 "o-z y'I - 产品质量检测。 ?]_$Dcmx - 光学性能分析。 ; F"g$_D0 - 粗糙度分析。 -b9\=U[ *v !9MU9[(
rr],DGg+B] QQ：2987619807 /[
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