左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
TY? F s- 系统简介 ZY83, :<
!Ed';yfz\( ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 s>kzt 1,x Ij" `pdp 特征及技术参数 +;vfn>^!b
Rs E+\) - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， smSUo / - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） w L:3RZB - 入射光与探测器可共面或异面。 !4|7U\; - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 %zWtPxAf - 可对样品进行扫描。 -gzk,ymp - 动态范围： 13个数量级。 . 7oz - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 ]]Wa. P~]O - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 #SO9e.yhI - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 `S%p D.g,2 - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 I &4|T<j - 方便操作的测量及分析软件。 8Np Q"0X - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 !b Q5 CB vrH/Z.WD 应用 Yk:\oM
90Q} 9T\ 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 9= :!XkT. - 产品质量检测。 {4
*ob@w* - 光学性能分析。 qPWYY - 粗糙度分析。 Jcm" i ~ =YI<L8@g~
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