左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
fnX`Q[b4\A 系统简介 #S*/bao#
ah0`KxO] ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。
sAS:-wp Q&=w_Wc 特征及技术参数 *<jAiB,O*
D" rK( - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, S:oi<F - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) ?+W9az]+ - 入射光与探测器可共面或异面。 QoIT*! - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 :L RYYw - 可对样品进行扫描。 mmEYup(l0; - 动态范围: 13个数量级。 7k9G(i[-+ - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 RcM/!,B - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 [~#WG/!: - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 (b~T]3Es - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 n;+LH9 - 方便操作的测量及分析软件。 *|>d - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 jW3!6*93 ,3p~w5C/+[ 应用 .C(eh
]#l/2V1 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 LO khjHR - 产品质量检测。 ,t9^j3Ixg - 光学性能分析。 _c*=4y - 粗糙度分析。 f~y%%+{p
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