左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
79DC]48M 系统简介 y (A"g3^=
b+>godTi_ ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 A5b}G Ih0GzyU*4 特征及技术参数 QZfnoKz
~cjvo?)&e; - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， vY 6|V$ - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） ~nQb;Bdh% - 入射光与探测器可共面或异面。 r[x7?cXsW - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 ?)&TewP - 可对样品进行扫描。 n|.;g!QDA - 动态范围： 13个数量级。 :lAR;[WFS - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 >+ r2I% - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 tdm /U - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 _u0dt) $ - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 fu/c)D6u*m - 方便操作的测量及分析软件。 >Vvc5 5z - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 jv ";?*I6. ,x/j&S9! 应用 `6/7},"9t
Sv ,_G' 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 xM:dFS - 产品质量检测。 T1E=<q4 - 光学性能分析。 e/6oC~#] - 粗糙度分析。 LM} si|
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8Y 9mB #X QQ：2987619807 Z+?j8(:n
