左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
nl 2Lqu1 系统简介 8?L-3/
.mrv"k\< ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 a++gwl vRaxB 特征及技术参数 2va[= >_
L=#B >Eu - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， F6CuY$0m= - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） F ',1R"/} - 入射光与探测器可共面或异面。 3 ?aM\z; - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 fMf; - 可对样品进行扫描。 s +S6'g-- - 动态范围： 13个数量级。 8}[<3K%*g - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 ~g[D!HV|yu - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 0*P -/)o x - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 -[>J"l - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 u$ nmnd`g - 方便操作的测量及分析软件。 y<IHZq`C3 - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 e 0$m< 5 &9v8 应用 hb 1h .F
DZESvIES 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 7{"F%`7L - 产品质量检测。 r.LO j6c - 光学性能分析。 ?zsRs?rc0 - 粗糙度分析。 x Zq, kP^ Nm pNme
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