左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
o B o*<6 系统简介 1[8^JVC>6
IZ7o6Etti ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 Nw$OJ9$L>
ybw\^t 特征及技术参数 ;?tH8jf>
{59 >U~ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， \Ta5c31S+ - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） P.C?/7$7Z+ - 入射光与探测器可共面或异面。 Tx!t3;Yz[ - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 8.n#@% - 可对样品进行扫描。 Wc2&3p9 c - 动态范围： 13个数量级。 ?]$<Ufr - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 pu]U_Ll@ - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 /51$o\4 S - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 z k/`Uz - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 !p!Qg1O6o - 方便操作的测量及分析软件。 H-+U^@w - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 #~) A#~4O k6&~)7 -f 应用
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R20 .dA_N 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 Eu'E;*- f - 产品质量检测。 <)wLxWalF - 光学性能分析。 $f0u - 粗糙度分析。 M,@M5o2u yuBRYy#E|%
} &+]UGv QQ：2987619807 ?Y3i-jY
