左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
}daU/ 系统简介 ?Cx=!k.
@uanej0q7 ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 G, <l}(tEG lQy-&d|=#^ 特征及技术参数 wuM'M<J@
{|B[[W\TN - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， l]gW_wUQd - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） k|{ 4"4r - 入射光与探测器可共面或异面。 f>|<5zm#< - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 #%w )w R3 - 可对样品进行扫描。 ]wi0qc2 { - 动态范围： 13个数量级。 1g j GaC - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 &gUa^5'# - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 e1%kW1Z9 - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 be $']}cP - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 N
Hn #c3o - 方便操作的测量及分析软件。 p}5413z5Z= - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 NEvN j lxr;AJ( 应用 cBv"d ~
2e03m62* 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 /Gn0|]KI - 产品质量检测。 zx*D )i5- - 光学性能分析。 e
m0 hTxb - 粗糙度分析。 i0J`{ PbI B^/k `h6J
lJdYR'/Wd QQ：2987619807 U3` ?Z`i(
