左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
3Wl,T5}{ 系统简介 \~#$$Q-qtU
}>|M6.n " ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 V#Px #cRw0bn: 特征及技术参数 AUk,sCxd
1Y-m=~J7 - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， \z4I'"MC.9 - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） wf=
s-C - 入射光与探测器可共面或异面。 B)bq@ jM - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 z+Cw*v\Y - 可对样品进行扫描。 CfWtCA - 动态范围： 13个数量级。 O&Ws*k - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 y[ W<vb+F - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 tL;!!vg#V - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 EM.7,;|N - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 H*Tc.Ie - 方便操作的测量及分析软件。 p? dXs^ c - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 D_HE! fl #00k7y>OyD 应用 h5:>o
6Wm`Vj(s 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 !p4y@U{ - 产品质量检测。 jBTXs5q - 光学性能分析。 u 9:+^F+ - 粗糙度分析。 P a{)@xT krw _1Mm
Bj ~bsT@a. QQ：2987619807 GomTec9.
