左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
sqkk 4w1#C 系统简介 -nP
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Kj| l]' ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 5 rp X" ( 5VWyc9Q 特征及技术参数 k&-SB -
b,] QfC - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， G } B)bM2 - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） P@ Oq'y[ - 入射光与探测器可共面或异面。 "F
nH>g- - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 Y%AVC9( - 可对样品进行扫描。 ,DU D 4 [3 - 动态范围： 13个数量级。 3 ZO\ P u - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 ,tt]C~\u - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 8PQKB*<dB" - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 nH*JR - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 _tJp@\rOz= - 方便操作的测量及分析软件。 pSM\( kVKa - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 :77dl/d% 4-RzWSFbo` 应用 &jJj6
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_]~`t+W'DJ 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 7` 113`1 - 产品质量检测。 iT f]Pd' - 光学性能分析。 I<p- o/TP - 粗糙度分析。 5U[m]W=B " `l8*]z
`acX1YWh5 QQ：2987619807 hS<lUG!9UJ
