左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
nJ/ w tw 系统简介 3#>;h
e2#"o{+@ ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 \'(
@{ LS:3Dtq 特征及技术参数 VdpkE0
} g WSV - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， T!6H5>zA - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） AYHfe#! - 入射光与探测器可共面或异面。 <j1l&H|ux, - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 QZufQRfr{ - 可对样品进行扫描。 Uo{h.
.7? - 动态范围： 13个数量级。 yjvH)t/!. - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 W(*:8}m,p - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 Vv(!Ki} - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 o/I <)sa - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 9%\<x - 方便操作的测量及分析软件。 p},6W,f - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 T:0X -U @+ ",f] 应用 ]ABpOrg
(_ov _3 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 6y) xMX - 产品质量检测。 SdUtAC2 - 光学性能分析。 8F0+\40 - 粗糙度分析。 qF6YH :W5*fE(i
] *{QVn( QQ：2987619807 <!:,(V>F(C
