左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
u) *Kws 系统简介 ,X/-
s".HEP~]= ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 ddDS=OfH ({[,$dEa; 特征及技术参数 js <Ww$zFW
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~rb - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， yA;W/I4 - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） } htPTOy5 - 入射光与探测器可共面或异面。 Ty+I8e]{ - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 &88oB6$D^q - 可对样品进行扫描。 KQmZ#W%2m - 动态范围： 13个数量级。 IOEM[zhb$ - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 Z8&' f, - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 3?E}t*/ - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 SSmHEy*r) - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 (lWq[0^N - 方便操作的测量及分析软件。 D:E9!l' - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 9_huI'"p |y1;&< 应用 K2ew ucn
` |Fp^gM 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 6 hiC?2b{x - 产品质量检测。 {a "RXa - 光学性能分析。 |_zO_F rtp - 粗糙度分析。 ;BBpN` T ^^}Hs-{ T
b{&FuvQg 2 QQ：2987619807
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