左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
jxw8j o06: 系统简介 vKbGG
X|TGM ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 i[vN3`*B /#x0?d {5 特征及技术参数 _}H`(d%N
p)7U%NMc(* - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， a$11u.\q+ - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） '}Jq(ah( - 入射光与探测器可共面或异面。 0Z AtBq.s - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 W}^>lM\8 - 可对样品进行扫描。 Em<J{`k6 - 动态范围： 13个数量级。 pR:cn kVF - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 Qm v8T
^+ - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 7B gA+Fz - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 SsL> K*t5 - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 _rUsb4r - 方便操作的测量及分析软件。 f,+ONV]5Tt - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 (j)>npOd9 "aGpC{ 应用 t 2-bw6U
t-hN4WKH_A 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 IrP 6 Rxh - 产品质量检测。 g;nPF*( - 光学性能分析。
ra\2BS)X - 粗糙度分析。 xe1xP@e? @ao Hz8K
q'[yYPDX5x QQ：2987619807 ;Uj=rS`Q
