左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
T\
}v$A03 系统简介 sqpOS!]
j5h
6u,^: ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 ]F* a PV + =~%S)9F 特征及技术参数 K _+;"G
i$^B- - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， X*9N[#wu6 - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） PSf5p\<5 - 入射光与探测器可共面或异面。 =6:L + V - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 P&%eIgAOL - 可对样品进行扫描。 87pXv6'FQ - 动态范围： 13个数量级。 Am4^v?q - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 KA-/k@1& - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 "`i:)E t - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 7Cd_zZ - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 g?[ & 0r1 - 方便操作的测量及分析软件。 ~l*?D7[o - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 ~'NpM #A r -q3+c^+ 应用 6(J4 IzZ
4]aiT8 )) 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 ?cs] #6^ - 产品质量检测。 ,c%K)KuPK. - 光学性能分析。 8hK P - 粗糙度分析。 Ed^uA+ D \S iHrr5
m
UWkb QQ：2987619807 %`?;V;{=
