左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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w2 系统简介 q>w )"Dd
XUuu-wm:} ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 v)2M1 Y?ez9o:/# 特征及技术参数 ICAH G7 ,
4%1D}9hO6 - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， y^]tahbo - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） 1heS*Fwn' - 入射光与探测器可共面或异面。 " R8KQj - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 l2; CQ7 - 可对样品进行扫描。 QdLYCR4f - 动态范围： 13个数量级。 4A9{=~nwT - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 Mwg u9 3? - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 G ;f/Tch - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 rp5(pV 7* - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 ~tOAT;g}q - 方便操作的测量及分析软件。 "zIFxDR# - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 -{`@=U Fu^ ^i& 应用 "_2Ng<2
W+*5"h 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 *Z_C4Tj - 产品质量检测。 K Fa_ - 光学性能分析。 !?^b[
nC% - 粗糙度分析。 3 =W!4 %%cHoprDa
yjJ5P`j] QQ：2987619807 g#]wLm#
