左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
VfqY _NmgC 系统简介 `W$0T;MPF
&9w%n ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 J:Y|O-S! vs)I pV( 特征及技术参数 ZQ' z
Am%a4{b - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， xT?} wF - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） 6+nMH
+[ - 入射光与探测器可共面或异面。 ^x"c0R^ - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 ]n]uN~)9 - 可对样品进行扫描。 %>9+1lUhV - 动态范围： 13个数量级。 Y:!/4GF - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 wQ=yY$VP - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 1;:t~Y - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 |8qK%n f} - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 M|5]#2J_2 - 方便操作的测量及分析软件。 m7wc)"`t - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 a3dzok +V);' "L 应用 CziaxJ
|;U=YRi 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 [z TYiNa - 产品质量检测。 D PS1GO * - 光学性能分析。 :O'C :n<g - 粗糙度分析。 E7NbPNd B#k3"vk#
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2@udp QQ：2987619807 ZA_zKJ[[7
