左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
)P>}uK; 系统简介 l{2Y[&%
(= T%eJ61 ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 z;V Ai=m
q nx2iEXsa 特征及技术参数 'l&),]|$)
dr54 D - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， Vb wB<nQl - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） Fm| h3.`V - 入射光与探测器可共面或异面。 8iB}gH e9 - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 $*KM%M6 - 可对样品进行扫描。 "1- gMob - 动态范围： 13个数量级。 ~ ~"qT - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 A#&,S4Wi| - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 ;REl G>#$ - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 ^z _m<&r - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 .8v[ss6: - 方便操作的测量及分析软件。 2i4& *& A - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 S5 ,y!K]C~ ~8j4IO( 应用 =!~6RwwwY
C{5bG=S g~ 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 ) ]y^RrD - 产品质量检测。 d:_3V rRZ - 光学性能分析。 Z
ZMz0^V - 粗糙度分析。 gdx 2&~ a%IJ8t+m n
)J"*[[e QQ：2987619807 T1([P!g*
