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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 Z3{Qtysuv3  
    q[K)bg{HB  
    任务/系统说明 D40VJ3TUc  
    ;\.&FMi  
    *n5g";k|  
    &pl;U\dc*a  
    亮点 oGJI3Oh  
    8+F2 !IM  
    | 'G$}]H  
    XWV~6"  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) $=R\3:j  
     严格分析光栅衍射效率 o\[nGf C&  
     考虑入射光的方向分布 !<ucwWY,  
    >=Veu; A  
    说明:光源 |lY8u~%  
    ' ?t{-z,  
    m%puD 9  
    C%"@|01cO  
    说明:光束分束器 Gr?gHAT  
    _`58G#z  
    ?'r[P03  
    '/?&Gol-  
    说明:检测透镜系统 p*A//^wQ  
    1|CO>)*D  
    ;d:7\  
    #a| 5A:g%  
    说明:微型晶片 QH:i)v*  
    |kD?^Nx  
    (?(ahtT4T  
    a*`J]{3G  
    说明:检测物镜 u#QQCgrs  
    -v] 0@jNe  
    gnt[l0m  
    xgVt0=q  
    说明:探测器 4"@yGXUb  
    GS@ wG  
    ;Lx5r=<Hx  
    mc$dR, H0  
    结果:3D光线追迹(只有0级) &Jz%L^  
    r&w>+KIt  
    DpAuI w7|  
    %* 8QLI  
    结果:3D光线追迹(所有级) #PGExN3e  
    42~;/4  
    +%^D)   
    X |as1Y$O+  
    结果:光线追迹 5UqCRz<,R  
    "[G P)nC  
    #cA}B L!3  
    }-kb"\X%g  
    结果:场追迹 s_|wvOW)'  
    aG!!z>  
    ;a|A1DmZ  
    ;X>KP,/r$  
    结果:线性偏振光的场追迹 ~![R\gps  
    Xc.~6nYp  
    I]h+24_S  
    zR:S.e<  
    文档和技术信息 [69aTl>/  
    > 2$M~to"1  
    9r!%PjNvE  
    a)xN(xp##  
    ^I^k4iw 4  
    QQ:2987619807 GlaWBF#  
     
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