切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1558阅读
    • 0回复

    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6441
    光币
    26350
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 NceK>:: 56  
    6_:KFqc W  
    任务/系统说明 mcs!A/]<  
    U8</aQLGF  
    3FMYs&0r4  
    =Ew77  
    亮点 m @)Ya*=<  
    E5a7p.  
    8~O0P=  
    \VypkbE+  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) \FnR'ne  
     严格分析光栅衍射效率 1DN  
     考虑入射光的方向分布 ?KE:KV[Y  
    zQ(`pld  
    说明:光源 jHV) TBr  
    X+ /^s)  
    q 2;CvoF  
    DU-dIq i  
    说明:光束分束器 Q<yvpT(  
    D4?cnwU  
    " BU4\QF-  
    Kp!A ay  
    说明:检测透镜系统 R{6M(!x  
    v|@EuN14<  
    6w_TL< S  
    sWi4+PAM0  
    说明:微型晶片 E/gfX   
    M} +s_h9  
    N37CAbw0  
    4{0vdpo3F  
    说明:检测物镜 s=Kz9WLy  
    MOm+t]vq1  
    E#cu}zi  
    1k{H,p7  
    说明:探测器 $F]*B `  
    Yqv!ZJ6  
    .Y }k@T40a  
    7 4hRG~  
    结果:3D光线追迹(只有0级) cb/$P!j7  
    vorb?iVf>  
    X<f4X"y  
    : z\||f  
    结果:3D光线追迹(所有级) H)Z$j&S{  
    m]}EVa_I`/  
    .Vs|&c2im  
    PeSTUR&  
    结果:光线追迹 7UUu1"|a|  
    3w/z$bj  
    #fXy4iL l  
    q3|SZoN  
    结果:场追迹 Ym$`EN  
    z$VVt ?K  
    ?iL-2I3*  
    (Sj<>xgd  
    结果:线性偏振光的场追迹 +^.xLTX`$  
    EEvi_Z932  
    C\0,D9  
    jPg[LZQ'  
    文档和技术信息 g<:TsP'|  
    v7@ *dg  
    },O7NSG<o  
    V3/OKI\o  
    oq (W|  
    QQ:2987619807 SE$l,Z"[*b  
     
    分享到