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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 mz|#K7:  
    b7thu5  
    任务/系统说明 1MntTIT  
    :A~6Gk92A  
    s)gUvS\  
    G*oqhep  
    亮点 nUp, %z[  
    j %3wD2 l  
    SFj:|S=v6j  
    OMl<=;^:|  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) ?h7,q*rxk  
     严格分析光栅衍射效率 nfL-E:n=  
     考虑入射光的方向分布 E46+B2_~zk  
    jrF#DDH?I  
    说明:光源 J )*7JX  
    m2i'$^a#  
    z0yPBt1W  
    a9+l :c@  
    说明:光束分束器 #i t)  
    .B9i`)0  
    L0sb[:'luz  
    q6A"+w,N  
    说明:检测透镜系统 C0 RnBu  
    *$+:Cbe-F  
    )BJ Z{E*  
    V2v}F=  
    说明:微型晶片 Vo G`@^s  
    >[$j(k^  
    {.,-lFb\  
    Hzn6H4Rc  
    说明:检测物镜 Cyn_UE  
    ['`Vg=O.{  
    ,MmX(O0  
    AA&5wDMV>  
    说明:探测器 ?y1G,0,  
    T@{ }!  
    t'7A-K=k3  
    c9uln  
    结果:3D光线追迹(只有0级) B %L dH  
    (8XP7c]5  
    ?Dr_WFNjO  
    8|U-{"!O ?  
    结果:3D光线追迹(所有级) /x2MW5H  
     x%$as;  
    @hz~9AII9  
    [f8mh88 r  
    结果:光线追迹 ]:K[{3iM  
    +|iJQF  
    <$:Hf@tpMo  
    V1d{E 0lM  
    结果:场追迹 YXFUZ9a#e  
    5nQxVwY  
    #P^cR_|\  
    O{Y_j&1  
    结果:线性偏振光的场追迹 2B !Bogs  
    +eIX{J\s  
    5Mb5t;4b  
    K'DRX85F  
    文档和技术信息 HOPi2nf{  
    f:!b0j  
    $I$ B8  
    ?Z{:[.  
    M{   
    QQ:2987619807 e5HHsR6  
     
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