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成像系统>包括光栅 Qw} xGlF, Ipg\9*c` 任务/系统说明 $Q#?`j C~:b* X  tRkrV]K vg5E/+4gp% 亮点 EI<"DB
KZi+j#7O
 v F] Fz{ o-4 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） ;g6 nHek 严格分析光栅衍射效率 Hc>([?P%t 考虑入射光的方向分布 E=A/4p6\$ +<H !3sW 说明：光源 Mi<*6j0 KqFmFcf|  X3 <S P 20n%o&kG]8 说明：光束分束器 MG;4M>H 3HXh6( e  ER/\ +Z#Z T3 =)F% 说明：检测透镜系统 W&Y4Dq^ Ni&,g  #cR57=M} :U7;M}0 说明：微型晶片 kg zwlKK )x y9X0  UzXDi#Ky 4GEj W4E 说明：检测物镜 oC5gME"2 t!NrB X  %`bLmfm Mf!owpW
T 说明：探测器 XA=|]5C _.u~)Q`6  RJQ/y3 (L]T*03# 结果：3D光线追迹（只有0级） D
"JMSL4r Z?5,cI[6#  T@2f&Un^ +SP! R[a 结果：3D光线追迹（所有级） SZNFE 3 t~X:  pIk4V/ fy s9^"wN YQ 结果：光线追迹 T9aTEsA[U i(dXA(p
 ;""-[4C +# m 结果：场追迹 3 ATN?V@ {6REfY
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 b#bO=T$e- Z?.:5# 结果：线性偏振光的场追迹 J$o[$G_Z ,Gf+U7'K  $u/8Rp
uOy\{5s8 文档和技术信息 oXu~9'm$ "a 2H 8x
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