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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 c=]qUhnH  
    CAyV#7[0  
    任务/系统说明 =<w6yeko  
    $s<,xY 9  
    ktLXL;~X  
    +^tq?PfE  
    亮点 yL/EIN  
    >yFEUD:  
    d2lOx|jt  
    meunAEe  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) k%-_z}:3V  
     严格分析光栅衍射效率 Au jvKQ(  
     考虑入射光的方向分布 %"^$$$6%  
    uU(G&:@  
    说明:光源 su6x okt  
    U">J$M@  
    RK?b/9y  
    C{>@b:]p  
    说明:光束分束器 ModwJ w  
    N1$lG? )+  
    jqxeON  
    Q!K@  
    说明:检测透镜系统 dA >=#/"  
    :q=u+h_  
    LX),oR  
    f1MKYM%^x  
    说明:微型晶片 l'=H,8LfA  
    JwWW w1  
    *Wk y#  
    (7BG~T  
    说明:检测物镜 }Kc[pp|9<  
    MMCac6;Aea  
    +7n;Bsk _  
    {a`t1oX(  
    说明:探测器 v#*9rNEj0  
    NIufL }6\  
    &ywAzGV{s  
    vmdu9"H  
    结果:3D光线追迹(只有0级) @ hH;d\W#  
    ~_ss[\N  
    xCwd*lsM  
    *0zdI<Oe  
    结果:3D光线追迹(所有级) pQ%~u3  
    ?"f\"N  
    ;okFm  
    *sK")Q4N  
    结果:光线追迹 E!<w t  
    ,l`4)@{G  
    1A\Jh3;Q  
    (|%YyRaX  
    结果:场追迹 bM7y}P5`1  
    0S8v41i6  
    _mVq9nBEf  
    =9$hZ c  
    结果:线性偏振光的场追迹 $g&,$7}O_  
    S <~"\<ED  
    ut z.  
    P2_UQ  
    文档和技术信息 )]x/MC:9r  
    @IL_  
    R2{y1b$l  
    J.'}R2gT1  
    S1oRMd)r  
    QQ:2987619807 O=E"n*U  
     
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