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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 vUR{!`14  
    bv5,Yk  
    任务/系统说明 k/=J<?h0  
    1Z6<W~,1OM  
    FF6[qSV  
    oqB(l[%z2  
    亮点 )t9<cJ=  
    YvHP]N{SA'  
    mEv<r6qDT  
    kih;'>H<  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) ZOK2BCoW  
     严格分析光栅衍射效率 z 3fS+x:E{  
     考虑入射光的方向分布 {=PO`1H  
    X,:^})]  
    说明:光源 )9 5&-Hs  
    kjfZ*V=-  
    &Vg+n 0  
    4 FW~Y  
    说明:光束分束器 hU3c;6]3  
    >K1)XP  
    "yXKu)_  
    g2JNa?z  
    说明:检测透镜系统 <w` R ;  
    d^mw&F)S  
    57*z0<  
    _d 76jmujJ  
    说明:微型晶片 t,M _  
    x5YW6R.<t  
    bdZ[`uMD  
    [-_3Zr  
    说明:检测物镜 %/"I.\%d  
    X xcY  
    iagl^(s  
    c [sydl  
    说明:探测器 B\r2M`N5  
    ~m8".Z"  
    Zy|B~.@<j  
    9+ nB;vA  
    结果:3D光线追迹(只有0级) C$(US8:{  
    }pdn-#  
    aY}:9qBice  
    F&%@p&  
    结果:3D光线追迹(所有级) <qT[  
    N4I`6uDgD  
    kfr' P u  
    rn $a)^!  
    结果:光线追迹 xHq"1Vs=  
    "XlNKBgM  
    GPz0qK  
    n^B9Mh @  
    结果:场追迹 C-E~z{  
    c[J?`8  
    GK .^Gd  
    pYf57u  
    结果:线性偏振光的场追迹 1DgR V7  
    g"ha1<y<  
    AD K)p?  
    `qnp   
    文档和技术信息 7aRtw:PQn  
    S "'0l S   
    qmqWMLfC  
    rV84?75( Y  
    )12.W=p  
    QQ:2987619807 q;Tdqv!Ju  
     
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