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成像系统>包括光栅 pk^K:Xs} P,xKZ{( 任务/系统说明 *]AdUEV? ;LG#.~f JBi*P.79^ }\%Fi/6Z{ 亮点 O!P H&;H `V`lo,"\
PK{acen S<VSn}vn 在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) |.F$G< 严格分析光栅衍射效率 =h0,?]z 考虑入射光的方向分布 n;@bLJ$W 0vtt"f)Y[ 说明:光源 kS_(wpA :pGaFWkvO *VFf.aPwYi znxnL,- 说明:光束分束器 *1v[kWa? )2bvQy8K |$vX<. S mS^tX i5hg 说明:检测透镜系统 ;A]@4*q VHCK2}ps ?AJKBW^ 2 lj'"nm 说明:微型晶片 .!f$
\1l Y8m1M-#w Y~L2 *h'=3w:G 说明:检测物镜 E%rk[wI JT3-AAi[Z In18_bc !a7[8& 说明:探测器 sE:M@`2L 77\]B P(+&OoY2 2w["aVr
= 结果:3D光线追迹(只有0级) 0`X]o'RxS &Xf^Iu XZ^^%*ew "uaMk}[ <! 结果:3D光线追迹(所有级) H."EUcE{ -Z 4e.ay5 -_1>C\h" bgK'{_o- 结果:光线追迹 /atW8 `& Dpl A?
gP0LCK> n ~shK<!C 结果:场追迹 yXHUJgjl/ Dey<OE&
cc~O&?)i m 8aITd8 结果:线性偏振光的场追迹 2QJ{a46} v":x4!kdX 1Cgso` _V7r1fY: 文档和技术信息 3E!|<q$z C~o7X^[R\
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